描述：意大利VICIVISION 測量接觸式探頭MTL X series一套測量系統(tǒng)，多種選擇Vicivision提供了全新的軸測量功能，將特定的光學(xué)技術(shù)方法與接觸式探針測量系統(tǒng)相結(jié)合。
光學(xué)與接觸式測量結(jié)合的性能表現(xiàn)
一套測量系統(tǒng)，多種選擇
Vicivision提供了全新的軸測量功能，將特定的光學(xué)技術(shù)方法與接觸式探針測量系統(tǒng)相結(jié)合。
光學(xué)測量系統(tǒng)由遠(yuǎn)心透鏡、光源、旋轉(zhuǎn)系統(tǒng)和傳感器組成，多年來為數(shù)百個(gè)軸類零件生產(chǎn)商提供了廣泛的測量。
如今，光學(xué)和接觸式測量功能的結(jié)合使得一個(gè)旋轉(zhuǎn)工件的全部測量控制只需一個(gè)周期。
測量系統(tǒng)現(xiàn)如今配備了一根雷尼紹掃描探針，安裝在光源頂部。探針可更換并能覆蓋整個(gè)長度區(qū)域。
當(dāng)光學(xué)測量系統(tǒng)快速提供靜態(tài)、幾何和螺紋測量、形狀和螺母測量時(shí)，接觸系統(tǒng)則檢測光學(xué)測量不了的特征。
光學(xué)與接觸的結(jié)合為最終用戶提供的測量選項(xiàng)：
軸向跳動(dòng)和軸向全跳動(dòng)
長度
平面度
垂直度
鍵槽寬度
鍵槽深度
鍵槽長度
